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• 發布了產品 2025-05-26 15:59

  高品質三坐標設備

  

  產品型號：Mars系列 注釋：如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯系中圖儀器咨詢。

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• 發布了產品 2025-05-26 15:58

  HiADM測距技術激光跟蹤儀

  

  產品型號：GTS系列 注釋：如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯系中圖儀器咨詢。

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• 發布了產品 2025-05-26 15:56

  SEM電鏡掃描儀器

  

  產品型號：CEM3000系列 注釋：如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯系中圖儀器咨詢。

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• 發布了產品 2025-05-23 14:53

  白光形貌干涉儀

  

  產品型號：SuperViewW系列 注釋：如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯系中圖儀器咨詢。

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• 發布了產品 2025-05-23 14:50

  國產AI全自動影像儀

  

  產品型號：Novator系列 注釋：如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯系中圖儀器咨詢。

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• 發布了產品 2025-05-23 14:45

  加工中心機床測頭

  

  產品型號：PO系列 注釋：如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯系中圖儀器咨詢。

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• 發布了產品 2025-05-23 14:40

  高精度三坐標快速掃描測量系統

  

  產品型號：Mars系列 注釋：如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯系中圖儀器咨詢。

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• 發布了產品 2025-05-23 14:34

  六自由度激光跟蹤儀

  

  產品型號：GTS系列 注釋：如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯系中圖儀器咨詢。

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• 發布了產品 2025-05-23 14:31

  中圖納米成像掃描電鏡

  

  產品型號：CEM3000系列 注釋：如有疑問或需要更多詳細信息，請隨時聯系中圖儀器咨詢。

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• 發布了文章 2025-05-23 14:27

  wafer晶圓幾何形貌測量系統：厚度(THK)翹曲度(Warp)彎曲度(Bow)等數據測量

  

  在先進制程中，厚度(THK)翹曲度(Warp)彎曲度(Bow)三者共同決定了晶圓的幾何完整性，是良率提升和成本控制的核心參數。通過WD4000晶圓幾何形貌測量系統在線檢測，可減少其對芯片性能的影響。

  厚度測量 數據測量 晶圓制造 翹曲度

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