卡倫測控技術(shù)（無錫）有限公司成立于 2011 年，公司注冊資金 2000 萬。現(xiàn)在江蘇無錫·中國電子(無錫)數(shù)字芯谷擁有 3800 平生產(chǎn)制造基地和研發(fā)電子實驗室。全體員工通過十幾年的專業(yè)科研、高校科研成果轉(zhuǎn)化以及技術(shù)引進合作，在試驗方法均滿足 GB、GJB、MIL、JIS、IEC、ATE、AEC 等相關(guān)試驗標(biāo)準篩選要求及規(guī)定下，一直致力于可靠性環(huán)境模擬試驗設(shè)備、可靠性老化測試設(shè)備、低溫恒溫專用設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)、銷售并為客戶提供行業(yè)整體解決方案。公司產(chǎn)品分為兩大模塊。一.可靠性試驗設(shè)備，幾乎覆蓋所有電子元器件可靠性試驗，是國內(nèi)可靠性試驗設(shè)備產(chǎn)品線齊全的供應(yīng)商。設(shè)備有：芯片氣體沖擊、步入式試驗室、超快速冷熱沖擊試驗機、恒溫恒濕試驗箱、應(yīng)力篩選試驗箱、冷熱沖擊試驗設(shè)備、氣體式?jīng)_擊試驗機、液態(tài)沖擊試驗箱、耐候試驗設(shè)備、快速溫變試驗箱、高溫老化室、老化測試室、低氣壓試驗機、QUV 紫外線老化試驗機、淋雨試驗箱、沙塵試驗箱、鹽水噴霧試驗機等。二．可靠性老化測試設(shè)備，如高溫反偏老化系統(tǒng)（HTRB)、高溫高濕反偏老化系統(tǒng)（H3TRB)、間歇式功率循環(huán)試驗系統(tǒng)（IOL)、HTOL 集成電路高溫動態(tài)老化測試系統(tǒng)、HAST 高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)、IGBT 模塊高溫反偏老化測試系統(tǒng)、HTGB 高溫柵反偏老化測試系統(tǒng)、高精密導(dǎo)通電阻測試系統(tǒng)等。