基于全相位FFT測相方差
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標簽：FFT(58812)
為揭示全相位FFT（ All-phase FFT，apFFT）相位測量法相比于現有方法精度提高的內在原因，在前人基礎上，結合譜泄漏分布特征及其參數估計理論，推導出了適用于apFFT測相的兩未知參數估計模型的克拉羅下限（ CramcrRao lowcr bound，CRLB），以及apFFT測相誤差與頻偏分布的關系。指出該理論下限比傳統三參數的CRLB低12 dB，基于此總結出一系列在不同信噪比和不同頻偏情況下的apFFT測相性能結論。仿真結果表明：在不同的信噪比環境和不同的頻偏情況下，apFFT的測相方差都能被CRLB2。所界定，驗證了上述結論及其新的CRLB2正確性。
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